苏州圣全科技有限公司-天津Omron VT-X750

6. X射线成像技术在BGA焊接质量检测中的应用

BGA（球栅阵列封装）是一种典型的高密度封装技术，其特点是芯片引脚以球形焊点按阵列形式分布在封装下面，可使器件更小、引脚数更多、引脚间距更大、成品组装率更高和电性能更优良。

目前BGA焊接质量检测手段非常局限，常用的检测手段包括：目检、飞针电子测试、X射线检测、染色检测和切片检测。其中染色和切片检测为破坏性检测，可作为失效分析手段，不适于焊接质量检测。无损检测中目检仅能检测器件边缘的焊球，不能检测焊球内部缺陷；飞针电子测试误判率太高；而X射线检测利用X射线透射特性，可以很好地检测隐藏在器件下方的焊球焊接情况，是目前很有效的BGA焊接质量检测方法。

AOI光学检测机一种以金属材质为主体的光学检测设备，厚重的金属机身不仅有利于设备保持机器结构，还能起到稳固位置的作用，以免机器设备位移而影响使用。但是，金属结构 为主体的设备也表现出维护的困惑。金属容易生锈，氧化，而AOI检测设备则对稳定性，精密性要求较高，Omron VT-X750，适宜的环境能发挥AOI设备的很好的性能，否则将导致 检测缺乏稳定，甚至损坏发黑工艺而使AOI设备主体结构生锈。

圣全科技是一家专门从事工业自动化设备、技术支持、售后服务、设备租赁、安装维护、方案开发和调试检查以及工装夹具设计制造的企业。

X-RAY检测设备能够检测到的就是利用射线的穿透力和物质密度之间的关系，利用差异吸收这一特性来区分密度不同的物质。因此，如果被检测物品出现断裂、厚度不同、形状变化，对射线的吸收就会不同，所产生的图像也会不同，从而产生差异化的黑白图像，达到无损检测的目的。