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安徽YXLON依科视朗 Xray-苏州圣全科技(在线咨询)

询盘留言|投诉|申领|删除 产品编号:591425164                    更新时间:2025-02-01
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3D检验法采用分层技术,即将光束聚焦到任何一层并将相应图像投射到一高速旋转的接受面上,由于接受面高速旋转使位于焦点处的图像非常清晰,而其它层上的图像则被消除,故3D检验法可对线路板两面的焊点独立成像。

     由于IC芯片比较精密主要由微型电子器件或部件构成。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,YXLON依科视朗 Xray,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗和高可靠性方面迈进了一大步。但越精密的电路,检测难度就越复杂。当前芯片检验的常用方法通常是将芯片层层剥开,再用电子显微镜对每一层表面进行拍摄,这样检测方式对芯片具有极大破坏性,此时,X-ray无损检测设备可提供解决方案。

AOI光学检测机一种以金属材质为主体的光学检测设备,厚重的金属机身不仅有利于设备保持机器结构,还能起到稳固位置的作用,以免机器设备位移而影响使用。但是,金属结构 为主体的设备也表现出维护的困惑。金属容易生锈,氧化,而AOI检测设备则对稳定性,精密性要求较高,适宜的环境能发挥AOI设备的很好的性能,否则将导致 检测缺乏稳定,甚至损坏发黑工艺而使AOI设备主体结构生锈。

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